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3532-50日本日置HIOKI3532-50LCR測試儀3532-50日本日置HIOKI3532-50LCR測試儀
搭配寬幅測試頻率的阻抗測試儀
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- 測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內以4位**度自由調整
- 可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。操作非常簡便，改變設置時通過觸模屏幕，所需的設定選項會順序排列顯示出來
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輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
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測量參數
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│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
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測量方法
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測量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒壓10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz)
檢測：電壓，AC
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測量頻率
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42Hz～5MHz
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測量量程
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│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定)
θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF
L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999
Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S
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基本精度
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│Z│: ± 0.08% rdg.，θ: ± 0.05°
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測量時間│Z│的典型值
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快速：5ms～ 慢速2：140ms
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顯示
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*大顯示值99999，LCD背光功能
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比較器功能
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設定：上、下限值，百分比或**值 輸出：3檔（高，中，低），開路集電極，絕緣
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外部打印
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9442 （與9443/9446/9593-01同時使用）
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電源供應
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100～240V AC 50/60Hz
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體積及重量
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352寬 x124高 x 323厚mm，6.5kg
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附件
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電源線（1），保險絲（1）
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3532-50日本日置HIOKI3532-50LCR測試儀
